I. Eszközök használata

A vizsgálati mikroszkópok az elektronikai, fémgyászati, vegyi és műszeripari iparban alkalmazhatók átlátszó, félátlátszó vagy átláthatatlan anyagok megfigyelésére, mint például fémkerámia, integrált blokkok, nyomtatott áramkörlemezek, folyékony kristályos lemezek, vékony filmek, rostok, bevonatok és egyéb nem xin anyagok, valamint az orvostudomány, az erdészet, a közbiztonság, az iskolák és a kutatási ágazatok megfigyelési elemzésére is alkalmasak.

2. Műszaki paraméterek

A fizikai képeket közvetlenül a televízión vagy a számítógépen lehet megfigyelni.

1. Szemüveg

2. Objektív

Optikai nagyítás: 50X-2000X Rendszerreferencia nagyítás: 50X-2600X;

4. háromszemű tükör: forgó, 30 °-os hajlás;

5. Koaxiális durva mikrodinamikus fókusz mechanizmus: fókusz tartomány 15mm mikrodinamikus értéke 2μm;

6. Mechanikai munkaasztal: függőleges mozgás: 50mm vízszintes mozgás: 70mm;

Fényforrás: tükröző fény: 6v / 20w halogén lámpa Fényesség állítható; Átalakítható fény: 6v / 20w halogén lámpa Fényesség állítható;

8. polarizáló berendezés: behelyezhető polarizáló lap, függőleges világítási berendezés nemcsak általános fémaelemzést, részecskeelemzési vizsgálatokat végezhet, hanem az átláthatatlan tárgyakat is elemezheti és megfigyelheti;

9. Szűrő: kék, sárga, zöld.

3. Rendszerbemutató

A vizsgálati mikroszkóp a hagyományos optikai mikroszkóp és a digitális fényképezőgép (számítógép) szerves kombinációja a fotoelektromos átalakítás révén nemcsak a szemüvegen, hanem a digitális fényképezőgép (számítógép) képernyőjén való valós idejű dinamikus képek megfigyelésére, valamint a szükséges képek szerkesztésére, mentésére és nyomtatására.

4. Rendszer összetétele

Számítógépes típus (ZYC-700E) 1. Érzékelőmikroszkóp 2. Adaptáló tükör 3. Digitális színes kamera 4. Adatkábel 5. Számítógép (opcionális)

Digitális fényképezőgép típusa (ZYC-700D) 1. Érzékelőmikroszkóp 2. Alkalmazó tükör 3. Digitális fényképezőgép (opcionális)